38. Ножи штампованные гребешковые и пальчиковые для электровакуумных приборов, ножки стеклянные собранные - окончательный контроль после травления.
39. Ножки электровакуумных приборов после штамповки, формовки, подрезки - контроль по внешнему виду и геометрическим размерам.
40. Оси керамические - измерение на биение.
41. Пластины слюдяные - контроль и проверка на соответствие техническим требованиям: платы, циркуляторы, диоды, транзисторы - окончательная приемка.
42. Подогреватели - контроль методом взвешивания на торзионных весах и по внешнему виду (визуально).
43. Приборы полупроводниковые - приемка по сдаточным испытаниям одного или нескольких типов приборов; контроль по внешнему виду и габаритам.
44. Приборы групп 40 и 55 - контроль по внешнему виду на расслоение кварца, приварку траверс, заедание штока.
45. Приборы электровакуумные - операционный контроль после сборки ножки, заварки, откачки; контроль внешнего вида; окончательная приемка и контроль по всем параметрам.
46. Проволока, прутки и заготовки различных диаметров, штабики, лента и полосы - контроль механических свойств, размеров, качества поверхности; тонкие сорта проволоки - контроль после волочения, травления, отжига и металлизации.
47. Пьезорезонаторы, пластины пьезокварцевые или из водорастворимых кристаллов - пооперационная приемка по механическим параметрам.
48. Резисторы, реле, счетчики, переключатели, лампы накаливания, радиолампы и электромагнитные реле - контроль по ТУ.
49. Сетки - контроль по внешнему виду с применением микроскопа.
50. Товары КБН - контроль сопротивления изоляции, электропрочности внешнего вида, качества отделки, сборки комплектности, маркировки, геометрических размеров, качества упаковки.
51. Транзисторы и микросхемы среднего уровня интеграции - снятие вольт-амперных характеристик цепей; вскрытие корпусов приборов и осмотр под микроскопом с целю выявления дефектов.
52. Трубки стеклянные, штабики, капилляры, бусы - контроль по внешнему виду, геометрическим размерам и определение качества отжига на полярископе.
53. Узлы и детали различной сложности с различными покрытиями для массовых типов электровакуумных приборов (покрытых катодов, подогревателей, экранов и др.) - контроль по внешнему виду.
54. Узлы комплектующие (на сборке) различной сложности - контроль шероховатости и размеров.
55. Узлы полупроводниковые (платы, циркуляторы, переходы волноводные) - проверка на замыкание, КСВ, потери и развязки.
56. Ферриты - контроль геометрических размеров с применением микроскопа; контроль массы на аналитических и торционных весах.
57. Фотооригиналы промежуточные - контроль внешнего вида, маркировки и расположения рабочей зоны.
58. Фотошаблоны интегральных схем (рабочие) - контроль внешнего вида, маркировки, расположения реперных и тестовых модулей.
59. Цоколи ПУЛ - контроль.
60. Элементы селеновые выпрямительные - окончательная приемка.
61. Элементы памяти на ферритовых изделиях, пленках - контроль качества монтажа по электрическим схемам; контроль качества паек; определение сопротивления изоляции.
§ 34. Контролер деталей и приборов
4-й разряд
Характеристика работ. Контроль и приемка кристаллов микросхем и полупроводниковых приборов, сложных оптических деталей, узлов, микроэлементов для микромодулей специального назначения, деталей и готовых изделий. Проверка качества сложных соединений. Применение точного контрольно-измерительного инструмента, оптических приборов, различных испытательных схем, самостоятельная их настройка. Проведение лабораторных контрольных испытаний. Выборочное прокаливание пластин искусственного пьезокварца. Проверка качества приборов с классификацией по видам брака (до 20 видов). Проверка соответствия фотошаблонов топологическому чертежу, чистоты поля фотошаблона (процент дефектных модулей), замер критических размеров элементов. Анализ ИЭТ, забракованных в производстве и отказавших при испытаниях и на этапе эксплуатации. Измерение электрических параметров терморезисторов, катушек индуктивности, конденсаторов, диодов. Подготовка заключений о качестве сырья и материалов. Оформление приемки и сдачи партии, составление документов и протоколов контроля, оформление документов по рассмотрению рекламации.
Должен знать: требования к технологической документации и приемке сложных деталей, узлов, приборов, кристаллов микросхем, микроэлементам для микромодулей специального назначения; устройство, назначение и условия применения контрольно-измерительных инструментов, приборов, микроскопов и аппаратуры, испытательных схем; систему допусков к посадок, степень точности и параметры шероховатости; методы и способы контроля сложных узлов изделий различного назначения; методы различных расчетов и вычислений; способы определения процента выхода моноблоков в пьезотехническом производстве; методы анализа, порядок рассмотрения рекламаций и оформление соответствующих документов; способы прокаливания искусственного пьезокварца, правила эксплуатации муфельной электрической печи; способы хранения микроэлементов; основные причины брака, меры его предупреждения и устранения; правила оформления соответствующей документации на результаты контроля и приемки изделий.
Примеры работ
1. Баллоны и ножки ПУЛ, ЛБВ и клистроны - контроль.
2. Блоки рентгенотелевизионного микроскопа - проверка на прочность; блоки питания для ЭВМ - контроль по параметрам.
3. БИС - контроль по внешнему виду качества фотолитографии; составление карты годности кристаллов на пластине.
4. Блоки катодные - проверка центровки на микроскопе БМИ.
5. Блоки ТКЛ и МКЛ катодные, анодно-сетчатые - контроль.
6. Выпрямители селеновые и купроксные - окончательная приемка.
7. Вилки и розетки штепсельные - контроль электропрочности и электропараметров.
8. Герконы, детали герконов - контроль внешнего вида с применением оптических приборов; анализ брака; измерение толщины покрытия.
9. ГИМ СВЧ - контроль корпусов, оснований и др. узлов с применением оптических приборов.
10. Датчики ДПУ и ВКГ - контроль.
11. Датчики МИС-10, МИС-11 - контроль плат с помощью универсального инструмента в соответствии с чертежами и ТУ.
12. Детали и узлы внутренней арматуры ПУЛ, генераторные и особо надежная серия ламп, детали оболочки цветного кинескопа - контроль.
13. Детали сложные после механической обработка (штоки, волноводы, переходы волноводные, наконечники полюсные и др.) с большим количеством отверстий и высокой чистотой обработки, детали металлические после отжига, химической полировки - контроль.
14. Детали ЭВП - окончательная приемка и контроль.
15. Детали керамические - контроль под микроскопом.
16. Детали установочной керамики различной конфигурации - контроль геометрических размеров с применением оптических приборов.
17. Детали ферритовые - проверка качества, коэффициента усадки.
18. Детали цифровых индикаторов - контроль на короткое замыкание и величины сопротивления.
19. Заготовки пьезокварца, водорастворимых кристаллов и пьезорезонаторы - контроль по механическим и различным электрическим параметрам.
20. Заготовки для фотошаблонов металлизированные - измерение толщины маскирующего покрытия.
21. Изделия керамические - контроль диэлектрических характеристик.