- предприятие-изготовитель;
- дата изготовления;
- номер партии;
- гарантийный срокхранения.
На СИЗ, подлежащие испытанию на дезактивируемость, дополнительно должна быть представлена информация согласно 5.1.
5.3 Сведения об испытуемом материале, а также все результаты измерений, указанные в разделах 6-8, заносят в рабочий журнал (приложение А).
5.4 Элементарные пробы для испытания вырубают цилиндрическим штанцевым ножом или вырезают вручную из материалов для изготовления СИЗ или из готовых изделий на расстоянии не менее 50 мм от кромки и 1 м от края рулона или не менее 50 мм от края детали изделия. Для изготовления элементарных проб из изделий выбирают ровные участки.
5.5 Элементарные пробы должны иметь форму диска диаметром от 30 до 35 мм. Допускается изготовление элементарных проб в виде квадратов площадью ( ) .
5.6 Толщина элементарных проб не нормируется и равна толщине испытуемого материала или изделия.
5.7 Число элементарных проб на каждый материал для изготовления СИЗ или на каждую деталь СИЗ, подлежащую испытаниям, - не менее 6 шт. При невозможности изготовления элементарных проб из отдельных деталей СИЗ элементарные пробы изготавливают из исходного материала.
5.8 Шесть элементарных проб каждого испытуемого материала метят с обратной стороны маркером, не смывающимся в дезактивирующем растворе, или надрезами на боковой поверхности с указанием номера материала (при испытании параллельно элементарных проб нескольких материалов) и номера элементарной пробы.
5.9 За 24 ч до начала испытаний элементарные пробы каждого материала обрабатывают в 0,24 раствора карбоната натрия с концентрацией 0,2 при помощи устройства для перемешивания жидкости в течение 3 мин. Раствор карбоната натрия используют однократно.
Затем элементарные пробы дважды промывают дистиллированной водой по 2 мин, пинцетом укладывают на поддон из легкодезактивируемого полимерного материала. Элементарные пробы сушат на воздухе при температуре ( )°С от 18 до 20 ч. После высыхания элементарные пробы переносят в вытяжной шкаф и укладывают на поддон, аналогичный вышеуказанному.
6 Проведение испытаний
6.1 Загрязнение элементарных проб растворами радиоактивных веществ
6.1.1 Элементарные пробы загрязняют одним из растворов радиоактивных веществ, указанных в 4.5.4, наиболее близко соответствующим области применения СИЗ, для изготовления которых предназначен испытуемый материал.
В отдельных случаях заказчик испытаний может указать раствор радиоактивных веществ, отличающийся от указанных в 4.5.4.
6.1.2 В центр каждой элементарной пробы, находящейся на поддоне, помещенной в вытяжной шкаф, наносят пипеткой 0,15 загрязняющего радиоактивного раствора.
6.1.3 Элементарные пробы сушат в вытяжном шкафу при температуре ( )°С от 18 до 20 ч.
6.2 Измерение уровня начального радиоактивного загрязнения элементарных проб
6.2.1 Подготовку радиометра к измерениям проводят в соответствии с требованиями НД для используемого радиометра, утвержденных в установленном порядке.
6.2.2 Каждое измерение загрязненности элементарных проб, а также счета образцовых источников и фоновых показателей радиометра проводят до достижения статистической погрешности не более 10 %. Все измерения каждого параметра повторяют 4 раза.
6.2.3 Для удаления возможных радиоактивных загрязнений поверхность детектора дезактивируют в соответствии с нормативными документами радиометра.
Поверхность подложки и дополнительных устройств для фиксации элементарной пробы дезактивируют дезактивирующей водной рецептурой, указанной в 4.5.5, до достижения фоновых показаний радиометра.
6.2.4 Фоновые показания радиометра не должны превышать нижнюю границу паспортного диапазона регистрации уровня загрязненности поверхностей (см. 4.2.1, 4.2.2). Для радиометра, используемого для измерения элементарных проб до дезактивации, допускаются фоновые показания, не более чем в 3 раза превышающие нижнюю границу паспортного диапазона регистрации уровня загрязненности поверхностей.
6.2.5 Фоновое показание радиометра измеряют в соответствии с НД радиометра перед началом измерения каждой серии элементарных проб (6 шт.) данного материала. Результаты измерения начального фонового показания [ или имп./с] заносят в рабочий журнал. Если среднее из четырех измерений значение фона превышает значение, указанное в 6.2.4, проводят дезактивацию поверхности детектора, подложки и дополнительных устройств для фиксации элементарной пробы в соответствии с 6.2.3. После этого снова измеряют фоновое показание радиометра. Дальнейшие измерения продолжают только после достижения фоновых показателей согласно 6.2.4.
6.2.6 Проводят измерение образцового источника альфа- или бета-излучения. Результаты измерений ( ) заносят в рабочий журнал.
Результаты измерения образцового источника используют следующим образом:
- для радиометра, обеспечивающего индикацию результатов измерений в , - для контроля работоспособности радиометра;
- для радиометра, обеспечивающего индикацию результатов измерений в имп./с;
- для определения коэффициента перехода от имп./с к .
6.2.7 Измеряемые элементарные пробы по одной укладывают на подложку, обеспечивающую фиксированное положение элементарной пробы относительно детектора, и проводят измерения загрязненности поверхности в соответствии с нормативными документами радиометра.
6.2.8 Результатом измерения уровня начальной загрязненности каждой j-й элементарной пробы является , измеряемая в или в имп./с.
Результаты измерений записывают в рабочий журнал.
6.2.9 Проводят измерение образцового источника альфа- или бета-излучения. Результаты измерений ( ) заносят в рабочий журнал.
Если среднее из четырех измеренных значений более чем на 20% отличается от среднего из четырех измеренных значений , в рабочем журнале напротив результатов, полученных по 6.2.7, 6.2.8, делают отметку "аннулированы". Затем выясняют причины нестабильной работы радиометра и после достижения стабильности в соответствии с 4.2.4 повторяют измерения по 6.2.5 - 6.2.9.
6.2.10 Измеряют конечное значение фонового показания радиометра. Результаты измерения конечного фонового показания [ или имп./с] заносят в рабочий журнал.
Если среднее из четырех измерений значение фона превышает значение, указанное в 6.2.4, в рабочем журнале напротив результатов, полученных по 6.2.7, 6.2.8, делают отметку "аннулированы". После этого проводят дезактивацию поверхности детектора, подложки и дополнительных устройств для фиксации элементарной пробы в соответствии с 6.2.3.
После достижения удовлетворительных результатов дезактивации повторяют измерения данной серии элементарных проб в соответствии с 6.2.5 - 6.2.10.
6.3 Дезактивация элементарных проб
6.3.1 По шесть элементарных проб материала для изготовления СИЗ помещают в банку с притертой пробкой вместимостью 0,5 и заливают 0,24 дезактивирующей рецептуры при температуре ( )°С.
6.3.2 Дезактивацию элементарных проб материалов для изготовления СИЗ проводят с помощью устройства для перемешивания жидкости в следующей последовательности:
- обработка дезактивирующей рецептурой - 10 мин;
- обработка дистиллированной водой - 5 мин;
- обработка дезактивирующей рецептурой - 10 мин;
- обработка дистиллированной водой - 5 мин.
Температура и количество воды те же, что и для дезактивирующей рецептуры, - 0,24 при ( )°С.
6.3.3 Элементарные пробы материалов для изготовления СИЗ после дезактивации укладывают на поддон, находящийся в вытяжном шкафу, и сушат при температуре ( )°С от 18 до 20 ч.
6.4 Измерение уровня остаточного радиоактивного загрязнения элементарных проб
6.4.1 Измерение уровня остаточного загрязнения элементарных проб в целом проводят аналогично 6.2.