- подповерхностных;
- на поверхности объектов с параметром шероховатости >10 мкм;
- при наличии на поверхности объектов нагара, продуктов коррозии, шлаков, термообмазок.
5.8 Магнитопорошковый метод относится к индикаторным (неизмерительным) методам неразрушающего контроля. Метод не позволяет определять длину, глубину и ширину поверхностных дефектов, размеры подповерхностных дефектов и глубину их залегания.
5.9 Магнитопорошковым методом не могут быть проконтролированы детали, узлы и элементы конструкций:
- изготовленные из неферромагнитных сталей, цветных металлов и сплавов;
- на поверхности которых зона контроля не обеспечена необходимыми подходами для намагничивания, нанесения магнитного индикатора и осмотра;
- с существенной магнитной неоднородностью материала;
- сварные швы, выполненные немагнитным электродом.
5.10 Магнитопорошковый контроль проводят по инструкциям (методикам) и по операционным (технологическим) картам. Рекомендуемое содержание технологических инструкций (методик) магнитопорошкового контроля объектов приведено в приложении А, а операционных (технологических) карт - в приложении Б.
5.11 Объем контроля, а также виды недопустимых дефектов и их размеры устанавливают в НТД отрасли или предприятия на контроль объектов.
5.12 Проведение магнитопорошкового контроля в ночную смену не рекомендуется.
5.13 В НТД отрасли или предприятия на контроль объектов магнитопорошковым методом рекомендуется применять условные обозначения видов и способов намагничивания и вида намагничивающего тока.
6 Выбор аппаратуры
6.1 В зависимости от целей и задач контроля, условий проведения работы и других факторов при МПК объектов может быть использована следующая аппаратура:
- универсальные стационарные дефектоскопы;
- специализированные стационарные дефектоскопы, в том числе автоматизированные, разработанные применительно к контролю однотипных объектов;
- универсальные портативные (переносные) магнитопорошковые дефектоскопы, разработанные применительно к контролю разнотипных элементов конструкций, деталей, узлов и других объектов, а также специализированные портативные дефектоскопы;
- стационарные или переносные источники освещения или УФ-облучения контролируемой поверхности;
- приборы для измерения намагничивающего и размагничивающего магнитного поля (напряженности или индукции) с погрешностью не выше 10%;
- индикаторы магнитного поля;
- приборы для определения кинематической или условной вязкости магнитных суспензий (вискозиметры);
- приборы для измерения уровня освещенности и УФ-облученности контролируемой поверхности;
- размагничивающие устройства;
- приборы для оценки уровня размагничивания (при необходимости размагничивания объектов после контроля);
- приборы для количественной оценки чувствительности магнитных индикаторов и концентрации магнитного порошка в суспензиях;
- устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов: смотровые оптические приборы (лупы, бинокулярные стереоскопические микроскопы, зеркала, эндоскопы), телевизионные системы, а также автоматизированные устройства обнаружения, регистрации и обработки изображений;
- контрольные образцы для оценки работоспособности магнитопорошковых дефектоскопов и магнитных индикаторов.
6.2 В состав магнитопорошковых дефектоскопов (намагничивающих устройств) в зависимости от их назначения и конструктивного исполнения могут входить следующие функциональные устройства:
- блок питания;
- программный блок;
- блок формирования намагничивающего тока;
- намагничивающие (и размагничивающие) устройства (КЗУ, соленоиды, электромагниты, гибкие кабели, центральные стержни, электроконтакты, постоянные магниты);
- система или блок измерения намагничивающего тока (напряженности магнитного поля);
- система или блок управления операциями контроля;
- устройство для нанесения на объекты контроля магнитного индикатора;
- приборы и устройства для проверки качества магнитных индикаторов;
- источники освещения или УФ-облучения;
- устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов.
Размагничивающие устройства, средства проверки качества магнитных индикаторов, средства осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов могут быть выполнены в виде отдельных блоков, устройств или приборов.
В цеховых условиях источники освещения или УФ-облучения помимо дефектоскопов устанавливают также на специализированных рабочих местах (в смотровых кабинах) осмотра объектов с целью поиска индикаторных рисунков дефектов.
6.3 Требования к магнитопорошковым дефектоскопам и намагничивающим устройствам должны соответствовать ГОСТ Р 53700. Требования к специализированным, в том числе автоматизированным, магнитопорошковым дефектоскопам устанавливаются в НТД отрасли или предприятия.
Требования к портативным электромагнитам переменного тока, к гибким кабелям, к электроконтактам, к источникам УФ-излучения и к смотровым кабинам для осмотра объектов контроля при использовании люминесцентных магнитных индикаторов - по ГОСТ Р 53700.
6.4 Магнитопорошковые дефектоскопы выбирают с учетом:
- номенклатуры, конфигурации и размеров объектов контроля;
- условий проведения работ (в цехе, на открытой площадке, в конструкции технического изделия, на стапелях, в том числе на высоте, и т.п.) и степени доступности зон контроля;
- требуемого значения намагничивающего тока или напряженности магнитного поля;
- используемого способа МПК;
- требуемой производительности труда;
- технических и экономических возможностей предприятия.