- холодостойкость;
- стойкость к циклическому изменению температуры;
- стойкость к солнечной радиации.
8.2.1 Средства испытаний и вспомогательные устройства
8.2.1.1 Камера тепла, в которой возможно создать температуру, значение которой составляет до плюс 60°С, и поддерживать ее длительное время с отклонением от номинального значения не более чем на 
.
. 8.2.1.2 Камера холода, в которой возможно создать температуру, значение которой составляет до минус 60°С, и поддерживать ее длительное время с отклонением от номинального значения не более чем на 
.
. 8.2.1.3 Камера имитации солнечной радиации, характеризующаяся верхними значениями интегральной плотности теплового потока 1125 
[0,027 
], в том числе плотности потока ультрафиолетовой части спектра (длина волн 280-400 нм) 42 
[0,0010 
].
[0,027 ], в том числе плотности потока ультрафиолетовой части спектра (длина волн 280-400 нм) 42 [0,0010 ]. 8.2.1.4 Часы или любое устройство для измерения длительных временных интервалов.
8.2.1.5 Регистратор температуры в климатической камере, если таковой не предусмотрен ее конструкцией.
8.2.2 Порядок подготовки к проведению испытаний
8.2.2.1 Включают камеры тепла или (и) холода.
8.2.2.2 Температуру в камерах доводят до заданной программой сертификационных испытаний.
8.2.2.3 Проверяют работоспособность излучателей в камере имитации солнечной радиации в соответствии с инструкцией по ее эксплуатации.
8.2.3 Порядок проведения испытаний
8.2.3.1 Испытания на воздействие тепла и холода
8.2.3.1.1 Располагают ПИ в камерах тепла (холода) так, чтобы была обеспечена свободная циркуляция воздуха между ПИ (упаковками с ПИ), ПИ и стенками камеры.
8.2.3.1.2 Закрывают камеры и, если за время загрузки камер температура в них снизилась (повысилась), выдерживают их требуемое время для достижения заданной температуры.
8.2.3.1.3 Момент достижения заданной температуры в камере считают началом испытаний.
8.2.3.1.4 Выдерживают ПИ в камере в течение 2 ч, если другое время не указано в программе сертификационных испытаний.
8.2.3.2 Испытания на стойкость к циклическому изменению температуры
8.2.3.2.1 ПИ устанавливают в камеру тепла и выполняют требования 8.2.2.2.
8.2.3.2.2 Выдерживают ПИ в камере тепла в течение 3 ч, если другое время не указано в программе сертификационных испытаний.
8.2.3.2.3 Переносят ПИ из камеры тепла в камеру холода и укладывают в ней с учетом требования 8.2.3.1.1.
8.2.3.2.4 Выдерживают ПИ в камере холода в течение 3 ч, если другое время не указано в программе сертификационных испытаний.
8.2.3.2.5 Возвращают ПИ в камеру тепла и повторяют воздействия по 8.2.3.2.1-8.2.3.2.4 три раза, если других указаний нет в программе сертификационных испытаний.
8.2.3.2.6 Время переноса ПИ из камеры тепла в камеру холода и наоборот не должно превышать 5 мин, если нет других указаний в программе сертификационных испытаний.
8.2.3.3 Испытания на стойкость к солнечной радиации
8.2.3.3.1 ПИ помещают в камеру имитации солнечной радиации, включают инфракрасное и ультрафиолетовое излучение, после чего значение температуры воздуха в камере устанавливают равным 
в тени.
в тени. 8.2.3.3.2 Облучают ПИ в камере в течение 120 ч непрерывно или с перерывами.
8.2.4 Оценка результатов испытаний
8.2.4.1 По окончании испытаний ПИ извлекают из камеры и проводят их внешний осмотр и сравнение с ПИ, не подвергавшимися воздействию тепла, холода или солнечной радиации.
8.2.4.2 Все изменения во внешнем виде ПИ регистрируют в рабочем журнале.
8.2.4.3 После осмотра ПИ передают для следующих испытаний в соответствии с программой сертификационных испытаний.
8.3 Метод испытаний на удар при свободном падении
Метод позволяет определять стойкость к удару при свободном падении при проведении сертификационных испытаний неукупоренных ПИ или ПИ в таре при температуре, значение которой составляет 
, если другое значение температуры не указано в программе сертификационных испытаний.
, если другое значение температуры не указано в программе сертификационных испытаний. 8.3.1 Средства испытаний и вспомогательные устройства
8.3.1.1 Горизонтальная ударная площадка, выполненная из стальной плиты толщиной не менее 10 мм, жестко связанная с бетонным фундаментом толщиной не менее 200 мм. Размеры ударной площадки должны быть такими, чтобы ПИ или тара в момент соприкосновения с площадкой не выходили за ее пределы.
Горизонтальность площадки проверяют уровнем в соответствии с ГОСТ 9416. Уровень двух произвольно взятых на поверхности площадки точек не должен отличаться более чем на 2 мм.
8.3.1.2 Подъемное устройство, снабженное захватами, удерживающими ПИ или упаковку в заданном положении без повреждений и обеспечивающее свободное падение испытуемого ПИ или упаковки.
Подъемное устройство должно обеспечивать установление заданной высоты падения ПИ или упаковки с допустимым отклонением 
.
. При испытании на удар при свободном падении с малых высот (до 2 м) легких ПИ (массой до 5 кг) допускается замена подъемного устройства устройством сброса с заданной высоты, отвечающим всем требованиям, предъявленным к подъемным устройствам.
8.3.1.3 Рулетка измерительная по ГОСТ 7502.
8.3.1.4 Климатические камеры для термостатирования ПИ, соответствующие требованиям 8.2.
8.3.2 Порядок подготовки к испытаниям и их проведение
8.3.2.1 Укладывают ПИ в транспортную тару, предусмотренную документацией на испытуемое ПИ. Если количество ПИ, предусмотренное программой сертификационных испытаний, недостаточно для заполнения тары, то используют наполнители (макулатуру, мешочки с песком и т.д.) таким образом, чтобы общая масса ПИ и наполнителя не превышала предусмотренной конструкторской документацией на ПИ.
8.3.2.2 ПИ термостатируют при заданной температуре 30 мин (без тары) или в течение 3 ч (ПИ в таре). Закрепляют ПИ или тару в захватах подъемного устройства и поднимают на заданную высоту.
Высота, с которой сбрасывают ПИ без упаковки, составляет 1,5 м, а высота, с которой сбрасывают тару с ПИ, составляет 12 м, если нет других указаний в программе сертификационных испытаний.
8.3.2.3 Высоту подъема контролируют расстоянием:
- для падения на угол - между ударной площадкой и вершиной угла;
- для падения на стенки - между ударной площадкой и каждым из углов испытуемой стенки;