Примечание. Практически за температуру окружающей среды принимают среднюю температуру, измеренную в нескольких точках на горизонтальной плоскости, расположенной от 0 до 50 мм ниже образца, на середине расстояния между образцом и стенкой камеры или на расстоянии 1 м от образца в зависимости от того, что меньше. Следует соблюдать меры предосторожности, чтобы избежать влияния теплового излучения на эти измерения.
4.7. Температура поверхности (температура корпуса)
Температура, измеренная в одной или нескольких определенных точках на поверхности образца.
4.8. Температурная стабильность
Состояние, при котором температура всех частей образца отличается от окончательной температуры не более чем на 3 °С или на величину, указанную в соответствующей НТД.
Примечания:
1. Для нетеплорассеивающих образцов окончательной температурой будет средняя (во времени) температура в камере, где находится образец. Для теплорассеивающих образцов необходимо проводить повторные измерения для определения интервала времени, в течение которого температура меняется на 3 °С или на величину, указанную в соответствующей НТД. Температурная стабильность достигается, когда отношение двух последовательных интервалов времени превышает 1,7.
2. Если тепловая постоянная времени образца меньше длительности выдержки при данной температуре, то никаких измерений не требуется. Если тепловая постоянная времени образца того же порядка, что и длительность выдержки, то необходимо удостовериться в том, что:
а) температура нетеплорассеивающих образцов находится в установленных пределах по отношению к среднему (во времени) значению температуры среды, в которой находится образец;
б) для теплорассеивающих образцов отношение двух последовательных интервалов времени превышает величину 1,7 при проведении повторных измерений для определения интервалов времени, в течение которого температура меняется на 3 °С или на величину, установленную в соответствующей НТД.
МЭК 68-3-1 дает дополнительную информацию по проведению испытаний теплорассеивающих и нетеплорассеивающих образцов.
3. Практически не всегда можно провести непосредственные измерения температуры внутри образца. Тогда проверку проводят путем измерения какого-либо другого параметра, температурная зависимость которого известна.
4.9. Камера
Замкнутый объем или пространство, в какой-либо части которого могут устанавливаться заданные условия.
4.9.1. Рабочий объем
Часть камеры, в которой заданные условия могут поддерживаться в пределах установленных допусков.
4.10. Комбинированное испытание
Испытание, при котором на образец воздействуют два или более внешних фактора одновременно.
Примечание. Измерения обычно проводят в начале и в конце испытания.
4.11. Составное испытание
Испытание, при котором образец подвергают воздействиям двух или более внешних факторов, следующих непосредственно друг за другом.
Примечания:
1. Интервалы времени между воздействиями отдельных факторов строго определены, так как они могут весьма существенно влиять на образец.
2. Предварительную выдержку, восстановление или стабилизацию между воздействиями факторов обычно не проводят.
3. Измерения обычно выполняют перед началом воздействия первого фактора и по окончании воздействия последнего.
4.12. Последовательность испытаний
Последовательность, при которой испытуемый образец подвергают следующим друг за другом воздействиям двух или более внешних факторов.
Примечания:
1. Интервалы времени между воздействиями отдельных факторов имеют такую длительность, что они не оказывают существенного влияния на испытуемый образец.
2. Предварительную выдержку и восстановление между различными воздействиями обычно проводят.
3. Измерения проводят перед началом и после воздействия каждого фактора, причем заключительное измерение одного испытания служит первоначальным измерением следующего.
4.13. Атмосферные условия приведения
Атмосферные условия, для которых корректируют путем пересчета параметры, измеренные при любых других условиях.
4.14. Арбитражные измерения
Измерения, повторяющиеся в строго контролируемых атмосферных условиях, когда неизвестны коэффициенты приведения параметров, чувствительных к атмосферным условиям, к значениям, соответствующим нормальным атмосферным условиям приведения, и измерения в рекомендуемом диапазоне окружающих атмосферных условий считают недействительными.
4.15. Выдержка (образца для измерения)
Операция, при которой образец подвергают воздействию атмосферы заданной относительной влажности или полному погружению в воду или другую жидкость при заданной температуре в указанный период времени.
Примечание. В соответствии с обстоятельствами, местом, применяемым для выдержки образца для измерения, может быть вся комната лаборатории, в которой поддерживают заданные условия в пределах указанных допусков, или специальная камера.
5. Нормальные атмосферные условия
Нормальные атмосферные условия включают условия, указанные в разд.4, 5, 6 данного стандарта.
5.1. Нормальные атмосферные условия приведения:
| - температура | 20 °С | |||
| - атмосферное давление | 101,3 кПа (1013 мбар) | |||
Примечание. Величину относительной влажности не оговаривают, поскольку поправка путем пересчета обычно невозможна.
Если измеряемые параметры зависят от температуры и (или) давления и если эта зависимость известна, то их величины должны быть измерены в условиях, указанных в п.5.3 и, в случае необходимости, могут быть приведены путем пересчета к нормальным атмосферным условиям приведения, указанным выше.
5.2. Нормальные атмосферные условия для арбитражных измерений и испытаний
Если измеряемые параметры зависят от температуры, давления и влажности и если эта зависимость неизвестна, то заданные атмосферные условия должны быть выбраны из следующей таблицы.
| Температура, °С | Относительная влажность, %* | Атмосферное давление, кПа (мбар)* | |||
| Номинальная | Допуск | ||||
| минимальный | максимальный | Минимальная | Максимальная | ||
| 20 | ±1 | ±2 | 63-67 | 60-70 | 86-106 (860-1060) |
| 23 | 48-52 | 45-55 | |||
| 25 | 48-55 | ||||
| 27 | 63-67 | 60-70 | |||
* Включая промежуточные значения.
Примечания:
1. Значение 25 °С включено, главным образом, потому, что оно представляет интерес для проведения испытаний полупроводниковых приборов и интегральных схем.